ارائه یک روش تکاملی در بهبود باراوری پس از ساخت با رویکرد آماری

سال انتشار: 1386
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,415

فایل این مقاله در 8 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ACCSI13_025

تاریخ نمایه سازی: 25 آبان 1386

چکیده مقاله:

افزایش روزافزون ناپایداری در پارامترهای ساخت مدارات و حساسیت بیشتر طرحهای امروزی به این ناپایداریها بر لزوم رویکرد آماری به طراحی مدارات دیجیتال افزوده است . ناپایداری پارامترهای ساخت معمولاً به وقوع تغییرات ناخواسته و غیر قابل پیش بینی در مشخصههای اصلی طرح نظیر تأخیر مسیر بحرانی و توان مصرفی و متعاقباً کاهش بازده فرآیند ساخت میانجامد. از اینرو ارائه یک روش بهینه سازی چندهدفی به منظور افزایش بازده ساخت با احتساب امکان وقوع ناپایداری در پارامترهای ساخت ضروری به نظر میرسد. در این مقاله یک روش بهینهسازی تکاملی با رویکرد آماری و بر مبنای سیاستهای مختلف بهبود آماری بازده ساخت ارائه شده است. در روش مذکور از تعیین اندازه گیتهای مختلف و تعیین ولتاژ آستانه گیتهای موجود در سطح مدار به عنوان سیاستهای اصلی بهبود بازده ساخت استفاده شده است.

نویسندگان

مینو میرسعیدی

دانشکده مهندسی کامپیوتر و فناوری اطلاعات دانشگاه صنعتی امیرکبیر

مرتضی صاحب الزمانی

دانشکده مهندسی کامپیوتر و فناوری اطلاعات دانشگاه صنعتی امیرکبیر

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • _ S.H. Choi, B.C. Paul, K.Roy, ،Novel sizing algorithm for ...
  • J. Singh, V. Nookala, and Z. Luo, *Robust gate sizing ...
  • A. Sirvastava, D. Sylvester, and D. Blaauw, 0Statistical optimization of ...
  • S. Bhardwaj, S.B..K. V rdhula, :Leakage minimization of nano-scale circuits ...
  • A. Agrawal, K. Chopra, D. Blaauw, and V. Zolotov, ، ...
  • M.R. Guthaus, N _ Venkate SWaran, C. Vi sweswariah, and ...
  • O. Coudert, R. Hadda, S. Manne, ،New algorithms for gate ...
  • V. Agarwal, J. Wang, ،Yield-Area optimization of digital circuits using ...
  • M, Laumanns, L. Thiele, and E. Zitzler, 4An efficient, adaptive ...
  • logical effort: designing Stochastic؛، [11] A. Demir, S. Tasiran, for ...
  • A. Devgan, C. Kashyap, ،$Block-based static timing analysis with uncertainty, ...
  • C. Clark, :The greatest of a finite set of random ...
  • نمایش کامل مراجع