شبیهسازی بلادرنگ در دیاگرام وی و ارزیابی دقت عملکرد آن با استفاده از یکعملگرالکتروهیدرولیکی بالک

سال انتشار: 1389
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 989

فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

AEROSPACE10_464

تاریخ نمایه سازی: 2 اسفند 1390

چکیده مقاله:

در این مقاله دقت عملکرد بلادرنگ آزمایشگاه سختافزار در حلقه با تکیه برجایگاه آن در دیاگرام وی بررسی شده است. دیاگرام وی برای بیان روند کلی طراحی، پیادهسازی و تست یک سیستم مورد استفاده قرار میگیرد. فرآیند توسعه سیستم بر طبق دیاگرام وی منجر به پیشرفت سریعتر سیکل توسعه و پرهیز از تکرار در بسیاری از مراحل میشود. شبیهسازی سختافزار در حلقه یکی از مراحل اساسی بیان شده در دیاگرام وی بوده که برای شبیهسازی بلادرنگ مورد استفاده قرار میگیرد. در اینجا برای بررسی دقت عملکرد آزمایشگاه سختافزار در حلقه، یک نمونه آزمایشگاه پیادهسازی شده و برای شبیهسازی یک عملگر الکتروهیدرولیکی بالک مورد استفاده قرار گرفته است. برای تایید نتایج حاصل، دقت این آزمایشگاه به روش تئوری ارزیابی شده است

کلیدواژه ها:

آزمایشگاه سختافزار در حلقه - دیاگرام وی – شبیهسازی بلادرنگ xPC Target -عملگر الکتروهیدرولیکی

نویسندگان

محمدقاسم کاظمی

کارشناسی ارشد مهندسی برق

مهرداد محسنی

سازمان صنایع هوافضا-

سعید محمدلو

دانشگاه صنعتی مالک اشتر

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Automatic Code Generation Facilitating New Teaching ...
  • . Shortening the Embedded Design Cycle with Model-Based ...
  • . ECU Production Code Generation, Tom Erkkinen and Steve Toeppe, ...
  • . "Lower Your Cost of Development throughout the Design _ ...
  • - Simulink@) Capabilities for Embedded Code Generation, June 3, 2003, ...
  • -Flight Code Generation, Tom Erkkinen, Embedded Applications Manager, MIADC2005, The ...
  • - Infrared System Test and Evaluation at APL, Scott A. ...
  • - The benefit of functional ground testing, A case study ...
  • - Internal Clock Drift Estimation in Computer Clusters, Hicham Marouani ...
  • نمایش کامل مراجع