مدیریت توان در سیستم های چند هسته ای با رویکرد اطمینان پذیری

سال انتشار: 1387
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 2,097

فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

CEIC02_056

تاریخ نمایه سازی: 4 آذر 1387

چکیده مقاله:

در سیستم های تعبیه شده، از زمانی که اندازه قطعات رو به کاهش و توان مصرفی رو به افزایش است ، قابلیت اطمینان دراز مدت ، بسیار مورد توجه قرار گرفته است.از آنجا که توان مصرفی زیاد و اندازه کوچک قطعه، طول عمر پردازنده ها را تحت تاثیر قرار می دهند، هم راستا با سایر اقدامات، مدیریت دینامیکی توان با توجه به تاثیر آن روی دمای پروسسور مورد توجه قرار می گیرد. در مقایسه با سیستم های تک هسته ای ، سیستم های چند هسته ای SOC دارای قابلیت های بیشتری برای تنظیم توان مصرفی و قابلیت اطمینان پذیری می باشند. موضوع این مقاله بیشتر روی نقطه ی اشتراک انواع مختلف استراتژیهای DPM در پروسسورهای چند هسته ای می باشد. این حقیقت اثبات شده که قابلیت اطمینان پذیری با توجه به انواع استراتژی های DPM تغییر می کند و از طرف دیگر نوسانات دمایی هسته بیشتر روی طول عمر آن تاثیر می گذارد. در این ارایه یک روش جدید جهت مدیریت توان دینامیکی به منظور افزایش قابلیت اطمینان پذیری و طول عمر آورده می شود.

نویسندگان

سجاد خانکشی زاده

دانشگاه آزاد اسلامی واحد تبریز

محمد بدرزاده

دانشگاه بیرجند

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • The SDVM homepage, 20O6. http://sdvm.ti. cSs _ uni -frankfurt. de. ...
  • Jan Haase, Markus Damm, Dennis Hauser, and Klaus Waldschmidt. Rel ...
  • Jan Haase, Frank Eschmann, Bernd Klauer, and Klaus Wal dschmidt. ...
  • Jan Haase, Frank Eschmann, and Klaus Wald schmidt _ The ...
  • Adaptive Computer Clusters. In 10th IEEE Workshop On Dependable Parallel, ...
  • Intel. Pentium M Processor Datasheet, April 2004. http ://www. intel ...
  • JEDEC. Failure mechanisms and models for S e miconductor devices, ...
  • K. Mihic, T. Simunic, and G. De Micheli. Reliability and ...
  • systems. In DSD _ Euromicro Symposium On Digital System Design, ...
  • J. Srinivasan and et al. The case for lifetime rel ...
  • Jayanth Srinivasan, Sarita V. Adve, Pradip Bose, Jude Rivers, and ...
  • design. In IBM Research Report, RC23048 (W03 12-122), December 2003. ...
  • _ - Hamedan - Iran - February 2009 ...
  • نمایش کامل مراجع