اثر بمباران یونی زیرلایه استیل 304 برروی رشد نانو لوله های کربنی باروش انباشت شیمیایی حرارتی

سال انتشار: 1385
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 2,246

متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

CMC08_040

تاریخ نمایه سازی: 3 اسفند 1385

چکیده مقاله:

در این مقاله فرایند رشد نانو لوله های کربنی با استفاده از گاز استیلن و به روش انباشت شیمیایی حرارتی (TCVD) مورد بررسی قرار گرفته است . زیر لایه های استفاده شده از جنس استیل 304 هستندکه به وسیله یون های آرگون تولید شده با استفاده از چشمه یونی کافمن با شدت هـای یکـسان و انـرژی هـای متفـاوت بمبـاران شـده است . بعد ازانجام این فرایندبر روی زیر لایه ها در محیطی از گازهای هیدروژن و آمونیاک و استیلن نانو لوله های کربن ی رشد داده شد . نمونه های رشد داده شده بوسیله و اسپکتروسکوپی رامان بررسی شدو نیزبرای مطالعه برروی ساختار زیر لایه های آماده سـازی شـده از میکروسـک وپ نیـروی (SEM) میکروسکوپ الکترونی روبشی اتمی (AFM) استفاده شد . در نهایت نتایج آنالیز (AFM) نشان داد که بمباران با انرژیهای بالاتر دانه های ریزتری را در سطح زیر لایه ایجاد نموده ودر نتیجه امکـان رشد چگالتر نانو لوله ها فراهم شده است .

نویسندگان

نرگس ثابتی نژاد

مرکز تحقیقات فیزیک پلاسما، واحد علوم و تحقیقات دانشگاه آزاد اسلامی ت

مجید مجتهدزاده لاریجانی

مجتمع پژوهشی کرج،پژوهشکده مواد،کرج

محمود قرآن نویس

مرکز تحقیقات فیزیک پلاسما، واحد علوم و تحقیقات دانشگاه آزاد اسلامی ت

پروین بلاش آبادی

مجتمع پژوهشی کرج،پژوهشکده مواد،کرج

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • J.W. Mintmire, B.I. Dunlap, C.T.White, Phys. Rev. Lett. 68 (1992) ...
  • S. Honda, Y. G. Baek , K.Y. Lee, T. Kuzuoka, ...
  • _ J. Lee, D.W. Kim, T.J. Lee, Y.C. Choi, Y.S. ...
  • Jang TK, Ahn JH, Lee YH, Ju BK. Cher Phys ...
  • H. Sato , T. Sakai _ M. Matsubayashi , et ...
  • E. Terrado, M. Redrado, E. Muioz , W.K. Maser, A. ...
  • H. C. Wen, K. Yang, K. L. Ou, W. F. ...
  • نمایش کامل مراجع