ورود
مقالات فارسیISIکنفرانسهاژورنالها

یک روش خود آزمون توکار مبتنی بر IEEE 1149.1 برای آزمایش at-speed لینکهای ارتباطی بین سویچهای شبکه بر تراشه دو بعدی منظم

محل انتشار: پانزدهمین کنفرانس کامپیوتر سالانه انجمن کامپیوتر ایران
سال انتشار: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,735

فایل این مقاله در 7 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:
https://civilica.com/doc/78936

شناسه ملی سند علمی:

CSICC15_002

تاریخ نمایه سازی: 26 مهر 1388

چکیده مقاله:

با پیشرفت تکنولوژی و افزایش فرکانس در محدوده +GHz، طراحی و آزمایش اتصالات از اهمیت بالایی برخوردار است . در این مقاله ما یک معماری پیمایش مرزی مبتنی بر خود آزمون توکار پیشنهاد دادیم که با استفاده از آن اشکالات همشنوایی لینکهای ارتباطی بین سویچهای شبکه-بر-تراشه دو بعدی منظم تحت آزمایش at-speed قرار می گیرند. این معماری شامل سلولهای تغییر یافته جهت تولید الگوی آزمایش مدل MAF و آنالیز پاسخهای آزمایش می باشد. بمنظور سازگاری کامل با استاندارد IEEE 1149.1 یک دستورالعمل جدید نیز جهت کنترل سلولها و عملیات پیمایش در مد آزمایش at-speed استفاده شده است.

کلیدواژه ها:

خود آزمون توکار ، هم شنوایی ، اتصالات ، استاندارد IEEE 1149.1 شبکه-بر-تراشه

نویسندگان

رضا نورمندی پور

دانشگاه آزاد اسلامی واحد سیرجان

احمد خادم زاده

مرکز تحقیقات ایران

امیرمسعود رحمانی

دانشگاه آزاد اسلامی واحد علوم و تحقیقات تهران ایران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • P. Magarshak, P. G. Paulin, _ ystem-on-Chip beyond the nanometer ...
  • Z. Chen, I. Koren, :Crosstalk Minimization in Three-layer HVH Channe] ...
  • A.B. Kahng , S. Muddu, E. Sarto, R. Sharma, : ...
  • H. Zhou, D. F. Wang, :Global Routing with Crosstalk Constraints, ...
  • W. Chen, S.K. Gupta, M.A. Breuer, :Test Generation in VLSI ...
  • W. Chen, S.K. Gupta, M.A. Breuer, "Test Generation for Cros ...
  • proceeding IEEE international test conference , Oct. 1999, pp. 191-200. ...
  • N. Itazaki, Y. Matsumoto, K. Kinoshita, _ An Algorithmic Test ...
  • K.T.Lee, C. Nordquist, J. Abraham, " Automatic Test Patter Generation ...
  • A. Sinha, S.K.Gupta, M.A. breuer, " Validation and Test Generation ...
  • M. H. Tehranipour, N. Ahmed, M. Nourani, "Testing SOC Interconnects ...
  • W. Tseng, T. Chien. _ self-test structure for crosstalk fault ...
  • C. Sunghoon, K. Yongjoon, K. Sungho. "MDSI: Signal integrity interconnect ...
  • C. Crecu, A. Ivanov, R. Saleh, P. P. Pande, "Testing ...
  • K. Petersen, J. Obere, 0Toward _ Scalable Test Netw ork-on-Chips, ...
  • Proceedings of the conference on Design, automation and test in ...
  • IEEE Standard 1 149. 1 -2001 , "Standard Test Access ...
  • M. Cuviello, S. Dey, X. Bai and Y. Zhao, :Fault ...
  • C. Grecu, P. Pande, A. Ivanov, and R. Saleh, :Timing ...
    • نمایش کامل مراجع