بهینه سازی فضای کد الگوریتم های تست در خودآزمون داخلی حافظه

امروزه در آزمون حافظه های جاسازی شده در تراشه های سیستمی (System_on_Chip) ، از الگوریتم های تست March به طور گستردهای استفاده میشود. در این مقاله، روشی نوین به منظور کدکردن این الگوریتمها برای استفاده در یک ساختار خودآزمون داخلی (Built_in Self_test) ارائه شده است. این روش علاوه بر بهینه سازی فضای حافظه لازم برای ذخیره کدها، قابلیت استفاده برای طیف وسیعی از الگوریتمها را نیز دارا میباشد.

کلیدواژه ها:

الگوریتم March ، BIST ، SOC ، کد کردن