Bayesian Networks for Calculating the Diagnostic Importance Factor (DIF) in the Presence of Correlated Failure

سال انتشار: 1393
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 928

فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

DCEAEM01_199

تاریخ نمایه سازی: 18 دی 1393

چکیده مقاله:

Fault diagnosis and System reliability in the presence of correlated component failure (CCF) is the main challenge in new complex system design. In this paper we use Bayesian networks for reliability analysis and then the diagnostic importance factor is presented. The correlation between failures of the components ismodeled by encoding multivariate Bernoulli distributions process, and then the process of diagnosing is considered by developing a Bayesian network. The approach is illustrated through common redundant structures, k-out-of-n and Parallel-series systems. The results indicate that the approach is simple and efficient. Finally we show comparison between our proposed method and the previous methods in which the CCF is not considered.

نویسندگان

Esfandiar Esmaieli

Department of Electrical Engineering Shahid Bahonar University, Kerman, Iran

Ali Mahani

Department of Electrical Engineering Shahid Bahonar University, Kerman, Iran

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • editors. Reliability Prediction in Systems with Correlated Component Failures ii ...
  • new techniques and applications: Wiley New York; 1981. [5] ...
  • Engineering (HASE), 2011 IEEE 13th International Symposium On; 2011: IEEE. ...
  • Bayesian perspective: John Wiley & Sons; 2006. [7] ...
  • dependence for reliability: Springer; 2006. [8] ...
  • نمایش کامل مراجع