روشی برای تشخیص معایب چندگانه با تعداد زیاد در مدارهای آنالوگ

یکی از چالشهای پیش رو در فرآیند تست و تشخیص عیب در مدارهای آنالوگ، کاهش دقت تست در مقابل افزایش تعداد عیبها می باشد. این حالت برای معایب چندگانه نمود بیشتری پیدا می کند. در این مقاله روشی برای رویارویی با این مشکل ارائه شده است که براساس آن به جای طراحی یک سیستم جهت طبقه بندی همه کلاسهای عیب، برای هریک از عناصر مدار یک طبقه طراحی می شود. به این ترتیب تعداد کلاسهای مربوط به هر طبقه بند بسیار کمتر از تعداد کل عیبهای مدار است و این امر موجب افزایش دقت تشخیص می شود. نتایج تجربی حاکی از قدرتمندی این روش در مقایسه با روشهای موجود از نقطه نظر دقت تشخیص و همچنین زمان تست است.

کلیدواژه ها:

تشخیص عیب ، مدارهای آنالوگ ، طبقه بندی