حسگر امپدانس مغناطیس براساس مبدل زمانی آنالوگ به دیجیتال ( TAD ) برای تلفیق مدار

یکی از مشکلات مهم در حسگرهای امپدانس مغناطیسی، سیستم اندازه گیری می باشد. در راستای حل این مشکل، می توان به نتایج آقای شینگوتاجیما اشاره کرد. در این مقاله علمی ترویجی، این تحقیق مورد بررسی و نتایج آن مورد ارزیابی قرار گرفته است. سیستم اندازه گیری میدان مغناطیسی جدیدی پیشنهاد داده شده است که شامل حسگر امپدانس مغناطیسی (MI) براساس مبدل زمانی آنالوگ به دیجیتال (TAD) برای تلفیق مدار روی چپ می باشد. سیستم حسگر MI پیشنهادی، نه یکسو کننده ونه نیروی افزای دیفرانسیلی دارد. هر دو در سیستم حسگر MI قبلی نیاز بودند چون تاثیر زیادی بر تلفیق مدار داشتند. برای نمایش سیستم اندازه گیری میدان مغناطیس پیشنهادی، به صورت آزمایشی شرایط عامل بهینه تعیین شده و مشخصه های مغناطیسی آن نشان داده شده است. اثبات می شود که سیستم حسگر MI پیشنهادی، دقت 22.2pT/LSB دارد که با تغییر clk نمونه گیری TAD می تواند بهینه سازی شود. به علاوه این سیستم پیشنهادی، سطح نویز 15pT/Hz1/2 دارد که بهتر از سیستم حسگر MI قبلی می باشد. به علاوه نسبت سیگنال به نویز زیادی دارد که بهتر از مورد قبلی است. این نتایج نشان می دهند که سیستم حسگر MI پیشنهادی برای تلفیق مدار مناسب بوده و مقیاس نویز کمی دارد.

کلیدواژه ها:

تلفیق مدار ، حسگر دقت زیاد ، امپدانس مغناطیس MI ، مبدل زمانی آنالوگ به دیجیتال TAD