بررسی پدیده ی میرایی لایه ی فشرده ی سیال در سیستم های میکروالکترومکانیکی

سال انتشار: 1394
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 987

فایل این مقاله در 9 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

EMAA02_001

تاریخ نمایه سازی: 8 آذر 1394

چکیده مقاله:

در مقاله ی حاضر، ارزیابی جامعی نسبت به پدیده ی میرایی لایه ی فشرده ی سیال در سیستم های میکروالکترومکانیکی ارائه می شود. بدین منظور ابتدا، مقدمه ای از ظهور سیستم های میکرو الکترومکانیکی به همراه کاربردها و بازار تجاری آن ها در بخش اول مطرح می گردد. سپس در بخش دوم، مبحث میرایی که شامل سیستم ارتعاشی با وجود صفحه ی محرک و زیرلایه ی ثابت و همچنین اثرات سیال می باشد، مورد بررسی قرار می گیرد. در این ارتباط، پارامتری که مشخص کننده ی درجه ی ترقیق سیال می باشد، عدد نادسن نام دارد که بیان ریاضی آن به تفصیل ارائه می شود. در ادامه در بخش سوم، پدیده ی میرایی لایه ی فشرده سیال به همراه نگاره ی هندسی و روابط حاکم بر آن معرفی گردیده و در نهایت بخش های چهارم و پنجم این مقاله، اختصاص به مروری بر مدل های تحلیلی ارائه شده و جمع بندی مطالب خواهند داشت. لازم به ذکر است که اهمیت تحلیل پدیده ی لایه ی فشرده ی سیال در سیستم های میکروالکترومکانیکی، با توجه به وجود شکاف هوایی میان میکروساختار مرتعش و زیرلایه ی ثابت، امری تاثیرگذار در مبحث طراحی، بهینه سازی و کنترل این سیستم ها می باشد

نویسندگان

عمران خوشروی غیاثی

دانشجوی کارشناسی ارشد مهندسی مکانیک، دانشگاه فردوسی مشهد

مسعود طهانی

استاد گروه مهندسی مکانیک، دانشکده ی مهندسی، دانشگاه فردوسی مشهد

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • بهرامی، محسن، قنبری، علی، "فناوری سیستمهای میکروالکترومکانیکی: ساختارهای فعلی و ...
  • _ W.C, Lee, H.L, Chang, P.Z and H. Y.C, "Review ...
  • Innacci, J., "Reliability of MEMS: _ Perspective on Failure Mechanisms, ...
  • Bao, M and Wang, W., "Future of Micro electromech anical ...
  • Chollet, F and Liu, H., _ (not so) Short Introduction ...
  • _ _ _ Review _ and Experimentl Techniques, _ _ ...
  • _ _ _ _ _ with Gas-Rarefaction Efects, " Journa ...
  • Nigro, S., Pagnotta, L and Pantano, M.F., "Analytical and Numerict ...
  • Christian, R.G, "The Theory of Oscillating- Vane Vacuum Gauges, " ...
  • Newell, W.E., "Miniaturization of Tuning Forks, " Science, Vol. 16, ...
  • _ _ _ _ _ lysis _ of ...
  • Hutcherson, S and Ye, W., "On the Squeeze-Film Damping of ...
  • Minikes, A., Bucher, I and Avivi, G., "Damping of a ...
  • /19] Bao, M., Yang, H., Yin, H and Sun, Y., ...
  • Li, P., Fang, Y and Wu, H., _ Numerical Molecular ...
  • _ _ _ _ in the Free _ of ...
  • Bao, M., Yang, H., Sun, Y and Wang, T., "Squeeze-Film ...
  • _ _ _ _ eam under the [25] Bao, M., ...
  • Skvor, Z., "On Acoustict resistance Due to Viscous Losses in ...
  • Pandey, A.K and Pratap, R., _ Comparative Study of Analytical ...
  • نمایش کامل مراجع