تاثیر زوال بذر بر میزان هدایت الکتریکی و برخی شاخص های جوانه زنی بذر چاودارSecale cereale

زوال بذر در طی نگهداری و انبارداری مهمترین عامل خسارت به بذر میباشد به منظور بررسی اثر زوال بذر بر میزان هدایت الکتریکی و شاخص های جوانهزنی بذر چاودار، آزمایشی در آزمایشگاه فناوری بذر دانشگاه یاسوج در سال 1396 انجام گرفت. تیمار آزمایش شامل زوال بذر در چهار سطح در مدت زمانهای صفر (بدون زوال)، 24، 48 و 72 ساعت در شرایط دمای 41 درجه سانتیگراد و با رطوبت نسبی 95 درصد اجرا شد. نتایج نشان داد که با افزایش مدت زمان زوال شاخص های جوانهزنی از قبیل درصد جوانه زنی، ضریب سرعت جوانه زنی، طول گیاهچه، شاخص طولی بنیه گیاهچه، وزن خشک گیاهچه و شاخص وزنی بنیه گیاهچه کاهش پیدا کردند. همچنین زوال بذر سبب افزایش نشت الکترولیتها از بذر شد که بیشترین میزان هدایت الکتریکی مربوط به تیمار زوال 72 ساعت 34/51 میکروزیمنس بر سانتیمتر و کمترین میزان آن مربوط به تیمار شاهد 18/54 میکروزیمنس بر سانتیمتر بود. بطور کلی نتایج نشان داد که زوال بذر از طریق تخریب غشاء سلولی و افزایش میزان نشت مواد از غشاء جوانه زنی بذر چاودار را به میزان زیادی تحت تاثیر قرار داد

کلیدواژه ها:

بنیه بذر ، پیری تسریع شده ، نشت الکترولیت