استخراج ویژگی از پتانسی لهای وابسته به رخداد با استفاده از تبدیل موجک پیوسته و آزمون t

در این مقاله روشی برای استخراج ویژگی از پتانسیل های وابسته به رخداد مغزی جهت کاربرد در سیستم های ارتباط مغز با رایانه استفاده شد ه است. روش ارائه شده، بر اساس ضرایب تبدیل موجک پیوسته و بیشینه های نسبی مقادیر t ضرایب تبدیل موجک در آزمون t است. از تبدیل موجک پیوسته روی پتانسیل های وابسته به رخداد در مجموعه دادگان II تک کانال Cz مربوط به مسابقه BCI 2005، جهت تشخیص مؤلفه P300 برای تفکیک دو گروه هدف و غیر هدف، استفاده شد. با این روش، ضرایب موجک پیوسته ای که مقدار t آنها در کنار ضرایب مجاورشان بیشینه نسبی است به دست آمده و سپس دو گروه هدف و غیر هدف با استفاده از طبقه بندی کننده آنالیز تفکیک خطی (LDA) توسط دسته ویژگی انتخاب شده، و سپس دو گروه هدف و غیر هدف با استفاده از طبقه بندی کننده آنالیز تفکیک خطی (LDA) توسط دسته ویژگی انتخاب شده، با 86/4% صحت طبقه بندی شدند که این روش موجب ارتقاء نتایج طبقه بندی تا 4/4% نسبت به استفاده از سیگنال کاهش نرخ یافته برای طبقه بندی گردید

کلیدواژه ها:

آنالیز تفکیک خطی ، آزمون t ، پتانسیل های وابسته به رخداد ، تبدیل موجک پیوسته ، مؤلفه P300