At-Speed Optimal Extended Symmetric BIRA to Repair Word-Oriented Memories
محل انتشار: ششمین کنفرانس مهندسی برق و الکترونیک ایران
سال انتشار: 1393
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 600
فایل این مقاله در 7 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICEEE06_267
تاریخ نمایه سازی: 1 مهر 1394
چکیده مقاله:
With the advance of VLSI circuit’s technology andthe reduction in the size of devices, the probability of thedefects especially in embedded memories has increased. Toprevent such flaws, lots of researches have been conducted todesign Built-In Self Repair (BISR) circuits so as to prevent theyield drop get to high reliability. This paper will present an atspeedoptimal algorithm to repair single-bit errors existing inWord-Oriented memories. Although we use parallel method toget the high analysis speed, the area consumption of the circuithas decreased considerably using our optimal algorithm. Therepair rate of the proposed Built-In Redundancy Analyzer(BIRA) is also 100% because we apply the binary search treeas the base of our algorithm. The simulation results andcomparison with other methods show the efficiency of theproposed method.
کلیدواژه ها:
Built-in redundancy analyser ، built-in self-repair ، word-oriented memory ، Comprehensive Real-time ExhaustiveSearch Test and Analysis (CRESTA) ، extended symmetric BIRA
نویسندگان
Shahin Khodadadi
University of Guilan, Rasht, Iran
Shahram Khodadadi
University of Mazandaran, Babolsar, Iran
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :