مورفولوژی نانوساختارهای سیلیکان متخلخل بوسیله طیف بازتاب
سال انتشار: 1389
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 816
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICOPTICP17_090
تاریخ نمایه سازی: 19 آبان 1389
چکیده مقاله:
طیف بازتاب چهار نمونه سیلیکان متخلخل تحت زمانهای اندیزاسیون 2، 6، 10 و 14 دقیقه اندازه گیری شد. افت و خیز طیف بازتاب برای هر چهار نمونه یکسان اما شدت انها متفاوت بود و با افزایش زمان شدت بازتاب، کاهش می یافت. پس از بررسی تصویر SEM نمونه ها به این نتیجه رسیدیم که دلیل عدم تغییر در افت و خیزهای طیف بازتاب یکسان بودن غلظت محلول الکترولیت در طول ساخت بوده و کاهش شدت بازتاب به دلیل کاهش ابعاد ذرات است این کاهش ابعاد باعث تغییر مورفولوژی نانوساختارهای سیلیکان متخلخل نیز می گردد کمترین شدت بازتاب به نمونه ای که کوچکترین ابعاد ذرات را داراست مربوط می شود.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :