بررسی فرکانس مرکزی و پهنای طیفی گاف <n> صفر و گاف براگ یک بلور فوتونیکی یک بعدی به عنوان حسگر دما و فشار

سال انتشار: 1389
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,110

متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ICOPTICP17_277

تاریخ نمایه سازی: 19 آبان 1389

چکیده مقاله:

دراین مقاله ابتدا ماتریس انتقال برای بلورفوتونیکی شامل یک لایه با ضریب شکست مثبت و منفی محاسبه و سپس طیف تراگسیلی از ان بررسی شده است نتایج به دست آمده نشان میدهد که افزایش کاهش ضخامت لایه منفی نسبت به ضخامت سلول واحد فرکانس مرکزی گاف صفر با به فرکانسهای بالا پایین جابجا می کند و همچنین تغییر در ضخامت سلول واحد پهنای طیفی گاف صفر را تغییرداده اما پهنای طیفی گاف براگ بدون تغییر مانده است در حالیکه فرکانس مرکزی گاف براگ جابجا شده اما فرکانس مرکزی گاف صفر بدون تغییر باقی می ماند بطور کلی نتایج به دست آمده نشان میدهدکه کوچکترین تغییر اعمال شده در ضریب شکست لایه مثبت نسبت به ضریب شکست لایه منفی در اثر تغییر ات دمایی فرکانس مرکزی هر دو گاف را تغییر خواهد داد در حالیکه تغییر در ضخامت سلول واحد در اثر فشار، کشش فقط فرکانس مرکزی گاف براگ را جابجا می کند.

نویسندگان

مهرداد باوقار

پژوهشکده مواد بناب پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای سازمان انرژی اتمی ای

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • _ _ _ _ dispersive photonic crystal", solid state _ ...
  • L. G. Wang, H. Chen and S. Y.Zhu, " Omn ...
  • J. Li, L. Zhou, C. T. Chan and P. Sheng, ...
  • نمایش کامل مراجع