رشد و مشخصه یابی الکتریکی لایه نازک فریت بیسموت با استفاده از روش لایه نشانی لیزری

سال انتشار: 1389
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,098

متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ICOPTICP17_337

تاریخ نمایه سازی: 19 آبان 1389

چکیده مقاله:

مواد مگنتوفروالکتریک به دلیل دارا بودن خواص الکتریکی و مغناطیسی قابل کنترل مورد توجه فراوان قرارگرفته است دراین تحقیق لایه نازک فریت بیسموت با کمک روش لایه نشانی لیزری تهیه شده و به کمک لایه نازک طلا پوشش پذیرفته است مشخصه یابی ساختاری سطح و پسماند الکتریکی این ترکیب با کمک طرح پراش پرتوایکس تصویربرداریمیکروسکوپ الکترونی و چیدمان اندازه گیری خواص الکتریکی مورد تحقیق قرارگرفته است نتایج به دست آمده بیانگر مفید بودن این ترکیبات در کاربردهای حافظه الکتریکی است.

نویسندگان

منصوره کریمی

پژوهشکده لیزر و پلاسما دانشگاه شهید بهشتی تهران

سیده مهری حمیدی

پژوهشکده لیزر و پلاسما دانشگاه شهید بهشتی تهران

محمدمهدی طهرانچی

پژوهشکده لیزر و پلاسما دانشگاه شهید بهشتی تهران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • H. Shen, J. Xu, A. Wu, J. Yu, Y. Liu, ...
  • K. Prashanthi, S.P. Duttagupta, R. Pinto and V.R Palkar, "Multiferroic ...
  • D. Huang, H. Deng, P. Yang, J. Chu, "Optical and ...
  • _ _ _ _ _ _ Laser Deposition! ...
  • نمایش کامل مراجع