اطلاعات اصطکاکی فیلم نازک چند لایه TiO2
سال انتشار: 1390
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 679
فایل این مقاله در 9 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
IMES05_108
تاریخ نمایه سازی: 23 خرداد 1392
چکیده مقاله:
فیلم های نازک TiO2 با استفاده از تکنیک سل-ژل روی سطح شیشه پوشش دهی و سپس فیلم های بدست آمده برای رشد کریستالها در دمای 500 درجه سانتیگراد قرار گرفتند. برای مشخص کردن عناصر طیف پراکنده کننده اشعه ایکس (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy, EDS) استفاده شد. این آنالیز نشان داد که عناصر Ti و اکسیژن در فیلم وجود دارند. حضور عناصری چون Si و Na و Mg و Ca بخاطر حضور این عناصر در پایه شیشه ای می باشد. اندازه و نوع کریستالها نیز از آنالیز تفرق اشعه ایکس (X-ray Diffraction, XRD) بدست آمدند. این آنالیز نشان م یدهد که فقط کریستال های از نوع آناتاز در فیلم ها موجود می باشد. برای مطالعه سطح فیلم قبل و بعد از سایش از میکروسکوپ تونل زنی (Scanning Tunneling Microscope, STM) و میکروسکوپ الکترونی روبشی (Scanning Electron Microscope, SEM) استفاده شده است. فیلم های بدست آمده با استفاده از دشتگاه تست کننده سایش و اصطکاک از نوع Pin on disk مورد آنالیز اصطکاک قرار گرفتند. نتایج حاصل نشان داد که فیلم های TiO2 دارای مقاومت به سایش بالایی می باشند. علت احتمالی مقاومت فیلم های TiO2 رد مقابل سایش مقاومت در برابر تغییر شکل پلاستیکی و چسبندگی مناسب روی سطح شیشه می باشد.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
احسان رحمانی
فوق لیسانس مهندسی شیمی، دانشگاه فردوسی مشهد
علی احمدپور
دانشیار مهندسی شیمی، دانشگاه فردوسی مشهد
مجتبی زبرجد
دانشیار مهندسی مواد، دانشگاه فردوسی مشهد
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :