خواص الکترونی Si1-xGexO2 با ساختار i-فاز

سال انتشار: 1386
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,267

متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

IPC86_284

تاریخ نمایه سازی: 20 دی 1385

چکیده مقاله:

در این کار خواص الکترونی Si1-xGexO2 با ساختار –i فاز (x=0/35, 0/5, 0/75, 1) با روشهای بر مبنای نظریه تابعی چگالی مورد بررسی قرار گرفته است . تأثیر تغییر جایگاه اتم های سلسیوم و ژرمانیوم بر ساختار نواری نیز بررسی شده است . محاسبات نشان می دهد که این ساختارها پایدار هستند و گاف انرژی آنها بین2/394 تا eV 4/584 است که بستگی به جایگاه اتمها و فشار روی سیستم دارد

نویسندگان

سیف ا... جلیلی

دانشکده علوم ، دانشگاه صنعتی خواجه نصیرالدین طوسی

مهرانه تیراندری

دانشکده علوم ، دانشگاه صنعتی خواجه نصیرالدین طوسی

سیدمحسن صالح کوتاهی

دانشکده علوم ، دانشگاه صنعتی خواجه نصیرالدین طوسی