برازش طیف های فتو گسیلی فیلم های نازک اکسیدی با روش FitXPS
محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران 1388
سال انتشار: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,023
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
IPC88_314
تاریخ نمایه سازی: 28 دی 1388
چکیده مقاله:
تعدادی از پژوهشگران در تجزیه و تحلیل طیف های فتوگسیلی XPS و تابش سینکروترونی از مدل سه پله ای برگلند و اسپایسر استفاده می کنند که در این مدل تغییر انرژی مربوط به پهن شدگی لورنتسی و گاوسی در تابع توزیع انرژی لحاظ نشده است. در اینجا با اعمال این دو فاکتور پهن شدگی، روش بهتر FitXPS را در برازش طیف های فتوگسیلی بکار بردیم . نتایج به دست آمده نشان می دهند که در این حالت می توان قله های دیگر سیلیکون و اتم های اکسیژن را با توجه به جهت اسپین ها از یکدیگر تفکیک نمود.
نویسندگان