بررسی ساختاری (XRD,SEM,EDX….) لایه های نازک نانوکریستال سولفید روی (ZnS)
محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران 1388
سال انتشار: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 3,889
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
IPC88_417
تاریخ نمایه سازی: 28 دی 1388
چکیده مقاله:
در این پروژه چگونگی ساخت لایه های نانوکریستال سولفیدروی با شیوه جدید لایه نشانی حمام شیمیایی (CBD) بر روی زیر لایه های شیشه ای و سیلیکونی به منظور مطالعه و بررسی خواص میکروساختار آن درسلول های فتوولتاییک بررسی می گردد. آنالیز XRD از نمونه ها نشان می دهد که نانوکریستال های قرار گرفته بر روی لایه ساختار مکعبی دارند. همچنین با استفاده از معادله ی شرر اندازه ی نانوکریستال ها محاسبه شد. تصاویر SEM گرفته شده از نمونه ها حاکی از این است که دانه ها کاملاً به هم فشرده شده اند، و ترکیب درصد شیمیایی کیفی ( FTIR) از نمونه ها نشان دهنده ی نوع ناخالصی در آنها است. همچنین میزا ن زبری و متوسط ارتفاع لایه نازک در این نمونه ها با استفاده از تصاویر AFM اندازه گیری شد. زبری و متوسط ارتفاع در ضخامت های مختلف لایه نازک سولفیدروی تقریباً ثابت می مانند.
نویسندگان
غلامرضا نبیونی
گروه فیزیک، دانشگاه اراک
رضا صحرائی
گروه شیمی فیزیک، دانشگاه ایلام
مریم طغیانی
گروه فیزیک، دانشگاه اراک
کامبیز هدایتی
گروه فیزیک، دانشگاه اراک
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :