مدار تولید کننده بردارهای آزمون در خود آزمون داخلی
محل انتشار: نهمین کنفرانس دانشجویی مهندسی برق
سال انتشار: 1385
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,086
فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ISCEE09_078
تاریخ نمایه سازی: 13 اسفند 1386
چکیده مقاله:
آزمون یکی ازمراحل مهم در تولید مدارهای VLSI است. در مدار های خود آزمون داخلی مسایل مهمی مانند مساحت مدار آزمون و توان مصرفی مورد توجه قرار می گیرد. در این مقاله ساختار جدیدی برای تولید بردارهای آزمون ارایه شده است که نسبت به ساختار های قبلی از کارایی بالاتری برخوردار می باشد
کلیدواژه ها:
نویسندگان
الهام زمانی دوست
دانشگاه شهید بهشتی، دانشکده برق و کامپیوتر