قابلیت اطمینان در دیودهای لیزری

سال انتشار: 1389
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,265

فایل این مقاله در 5 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ISCEE13_298

تاریخ نمایه سازی: 14 مرداد 1389

چکیده مقاله:

این مقاله قابلیت اطمینان را در دیودهای لیزری بررسی می کند برای دیودهای لیزری منحنی LIV معرفی شده است هنگامی که تغییرات به وجود آمده درهریک از پارامترهای این منحنی از یک حد استاندارد تجاوز کند به منزله پایان عمر مفید دیود تلقی می شود در ادامه نقصهایی که باعث از کار افتادن دیود می شوند بررسی شده و راهکارهایی برای کاهش این عیوب ارائه شده است سپس تستهای طول عمر و Burn-in که برای تعیین قابلیت اطمینان دیود لیزری لازم است ارائه و بررسی می شوند. در انتهابه بررسی قابلیت اطمینان در اجزای فرستنده نوری پرداخته می شود.

نویسندگان

علی وجدی

مدرس دانشگاه آزاد اسلامی واحد بیضا

محسن کوکبی

مدرس دانشگاه آزاد اسلامی واحد ارسنجان

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • : Lawrence A.Johnson , "Laser diode burn-in and reliability testing ...
  • : G . P , Agraval _ "fiber optic communication ...
  • : Melanie Ott, "Capabilites and Reliability of LEDs and Laser ...
  • : N. Ikoma, T. Kawahara, N. Kaida, M. Murata, A. ...
  • AlGaInAs Buried H ete rostructure Lasers for Uncooled 10Gb/s Direct ...
  • : Hyun-Jae Yoon, Nack-Jin Chung, Min-Ho Choi, In-Shik Park, and ...
  • Transmitters Using System Reliability Function" _ JOURNAL OF LIGHTWAVE T ...
  • نمایش کامل مراجع