بررسی حساسیت پیچشی میکروتیر میکروسکوپ نیروی اتمی همراه با پروب اسمبل شده جهت اسکن دیوارهای جانبی
محل انتشار: هفدهمین کنفرانس سالانه مهندسی مکانیک
سال انتشار: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,088
فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ISME17_636
تاریخ نمایه سازی: 20 فروردین 1389
چکیده مقاله:
دراین مقاله فرکانس تشدید پیچشی همچنین حساسیت پیچشی میکروتیرنوع جدیدی از میکروسکوپ های نیروی اتمی همراه با پروب اسمبل شده عمودی جهت اسکن دیواره های جانبی و لبه ها، مورد بررسی قرار گرفته و اثر سختی تماسی بین سطح مورد بررسی و نوک میکروسکوپ نیروی اتمی همچنین تاثیر نسبت طول پروب عمودی به طول میکروتیر افقی و جرم نوک این نوع جدید از میکروسکوپ های نیروی اتمی برروی فرکانس تشدید و حساسیت پیچشی میکروتیر افقی مورد مطالعه قرار گرفته و در پایان صحت مدل بررسی شده است.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
محمدتقی احمدیان
استاد دانشکده مکانیک دانشگاه صنعتی شریف
محمدحسین کهربائیان
دانشجوی کارشناسی ارشد دانشکده مکانیک
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :