بررسی تاثیر عوامل مختلف بر تشکیل رسوبات کلکریوس توسط سیستم جریان پالسی

با اعمال سیستم حفاظت کاتدی روی سازه های فراساحلی در آب دریا و در نتیجه کاهش میزان pH بر سطح سازه، شرایط لازم برا ی تشکیل پوشش های معدنی مانند Mg(OH)2 و Mg(OH)3 مهیا می شو د. سینتیک تشکیل این رسوبات عموماً بستگی به عواملی نظیر غلظت+ Mg2+ ، Ca2 و -PO43- ، SO42 ، دما ، پتانسیل اعمالی و فشار هیدرواستاتیک و سرعت جریان الکترولیت و ... دارد. در این تحقیق با استفاده از جریان پالسی رسوب کلکریوس بر سطح فلز نشانده می شود . نتایج تغییر غلظت عوامل موجود در الکترولیت با نتایج حاصل از حفاظت کاتدی معمول مقایسه شده است . از تکنیک های کرونوآمپرومتری برای نشان دادن تشکیل رسوبات کلکریوس پس از اعمال جریان پالسی بهره برده شده است . در آب دریای غنی از +Mg2 رسوب آراگونیت ناممکن است در حالیکه در این روش با استفاده از یک میدان الکترومغناطیسی قوی در یک بازه زمانی کوتاه شاهد تشکیل Mg(OH)2 هستیم و می توان از وجود همزمان آراگونیت و بوراسیت سود برد . به عبارت دیگر جوانه زنی بهتر دانه های بوراسیت شرایط رشد بهتری را برای دانه های آراگونیت مهیا می کند، زیرا میدان ایجاد شده باعث خروج یون های -SO42 از اطراف سطح می شود. در این مقاله علاوه بر بررسی اجمالی این پوشش ها ،تغییرات مقدار جریِان مورد نیاز این پوشش ها و ضخامت آنها به عنوان فاکتور تعیین کننده مورد بررسی قرار گرفته است . ضخامت پوشش ها توسط عکسبرداری SEM و میزان جریان مورد نیاز برای تشکیل آنها از طریق تحلیل نتایج کورنوآمپرومتری بدست آمده است. تاثیر چهار عامل ولتاژ اعمالی ، غلظت + Mg2 و +Ca2 در الکترولیت و زمان عملیات بر فرآیند مورد توجه قرار گرفته است . با استف اده از سیستم آنالیز Taguchi ترتیب تاثیر این عوامل بر فاکتورهای اصلی مورد بحث قرار گرفته است . مشخص شده است که موثرترین عامل بر ضخامت پوشش، مدت زمان اعمال حفاظت کاتدی و بحرانی ترین عامل بر مقدار جریان مورد نیاز برای حفاظت غلظت + Ca2 در الکترولیت است.