کاهش اثر خطای نرم برروی یک پردازنده دو هسته ای برمبنای MIPS

سال انتشار: 1390
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,458

فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ITICS01_015

تاریخ نمایه سازی: 12 فروردین 1391

چکیده مقاله:

این مقاله شامل دو قسمت اصلی می باشد درابتدا یک آنالیز تزریق اشکال شبیه سازی شده برروی یک پردازنده دو هسته ای مبتنی ببرمعماری MIPS ارایه می شود درادامه یک بهینه سازی درقسمتهای آسیب پذیر پردازنده اعمال کرده و اثرات این بهبود را مانند تحمل پذیری اشکال آن مساحت و تاخیر در آن ارزیابی می شود برای اولین ازمای ش9100 اشکال برروی 114 مکان تزریق می شود به منظور تشخیص میزان بهبود قابلیت اعتماد تعداداشکالهای گذرا در تعداد مکانهای اشکال مشابه تزریق شده و نتیجه با حالت بدون اشکال مقایسه می شود ارزیابی قابلیت اعتماد اشاره به این دارد که بسته به مکان تزریق اشکال و خصوصیات بنچ مارک ها اثرات اشکال بصورت معناداری تغییر می کند ارزیابی قابلیت اعتماد اشاره به این دارد که درحالت میانگین بیشتر اجزایی که درمعرض آسیب قرار دارند واسط گذردهی پیام داور و شمارنده برنامه می باشند. این ها اهدافی برای بهینه سازی به شمار می آیند که قابلیت بررسی در آنها وجود دارد روشهای تحمل پذیری اشکال که دراین مقاله استفاده شده برای بهبود قابلیت اعتماد در داور و بنابرروش TMR می باشد.

کلیدواژه ها:

خطای نرم ، تزریق اشکال ، پردازنده دو هسته ای برمبنای MIPS

نویسندگان

علی عباس زورقچیان

دانشگاه صنعتی امیرکبیر تهران

مسلم دیده بان

دانشگاه صنعتی امیرکبیر تهران

سیدمحمدجواد اسدی

دانشگاه صنعتی امیرکبیر تهران

سعادت پورمظفری

دانشگاه صنعتی امیرکبیر

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • A. Avizienis, J. C. Laprie, B. Randell, and Dependable and ...
  • _ _ _ [12] _ _ _ _ 2O3. ...
  • _ _ _ Processo, ; International Conference on Availability, Reliability ...
  • نمایش کامل مراجع