مقایسه معیارهای قابلیت اطمینان و مشاهده پذیری در مقاوم سازی انتخابی مدار

سال انتشار: 1394
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 556

فایل این مقاله در 12 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

MAARS01_112

تاریخ نمایه سازی: 16 اسفند 1394

چکیده مقاله:

با کاهش مقیاس تکنولوژی، افزایش پیچیدگی سیستم ها و کاهش سطوح ولتاژ، خطاهای نرم که از منابع مختلفی از جمله تشعشات فضایی ناشی می شود، در مدارها افزایش یافته است، از مباحث مهمی که امروزه در زمینه کاهش خطای نرم و مطرح است مقاوم سازی مدارات ترکیبی است. در این مقاله با مقایسه معیارهای قابلیت اطمینان و مشاهده پرویزی که برای تعدادی از مدارات ترکیبی ISCAS85 آزمایش شده است، روش مشاهده پرسیدی برای مقاوم سازی مدارات ترکیبی پیشنهاد می گردد.

نویسندگان

عارفه حسین پور

کارشناسی ارشد برق الکترونیک ،دانشگاه گیلان

شیوا تقی پور

کارشناسی ارشد برق الکترونیک ،دانشگاه گیلان

راهبه نیارکی اصلی

استادیار دانشگاه گیلان

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Denis Teixeira Franco, Mai Correia Vasconcelos, Lirida Naviner, J ean-Francos ...
  • Smita Kris hnaswamy, George F. Viamontes, Igor L. Markov, John ...
  • Samuel N. Pagliarini, Denis T. Franco, Lirida A. de B. ...
  • Denis Teixeira Franco, Mai Correia Vasconcelos, Lirida Naviner, Je an-Francois ...
  • J. Torras Flaquer, J.M. Daveau, L. Naviner, P. Roche, ::Fast ...
  • Jie Han, Hao Chen, Erin Boykin, Jose Fortes, :Reliability evaluation ...
  • Denis T. Franco, Mai C. Vasconcelos, Lirida Naviner, Jean-Francos Naviner, ...
  • Z. Navabi, "Digital System test and testable design, " Springer, ...
  • Lirida A. de B. Naviner, Jean-Francos Naviner, Tian Ban and ...
  • نمایش کامل مراجع