مروری بر روش های ارزیابی تاثیر خطای های محیط هوافضا بر میکروالکترونیک و ارائه بستر تست خطای SEE

با گسترش روند تجاری سازی صنایع هوافضا و در راستای کاهش هزینه تمام شده ، استفاده از قطعات تجاری در بخش های مختلف از جمله میکروالکترونیک ماهواره ها ، فضاپیما ها، ماهواره برها و صنایع وابسته به شدت گسترش یافته است . اما استفاده از قطعات تجاری در صنایع هوافضا ملاحظات و مسائل خاصی می طلبد . در این مقاله، با مروری مختصر بر دغدغه های میکروالکترونیک در صنایع هوافضا، به بحث و بررسی خطاهای نظم ناشی از تشعشعات فضایی پرداخت شده است. برای مدل سازی اینو خطاها، روش های مختلفی در مراجع مطرح شده است. این رویکردها، به صورت کامل دسته بندی و مرور گردیده و مزایا و معایب هر یک از آن ها توصیف شده است. همچنین اصول و نتایج پیاده سازی یک رویکرد مبتنی بر سخت افزار در این مقاله ارائه شده است. بستر سخت افزاری ارائه شده برای تست انواع خطاهای واژگونی دائمی یک یا چند بیت ، خطاهای گذرا و غیر قابل استفاده می باشد. روش تعیین مقدار عددی قابلیت اطمینان بر اساس نتایج حاصل از تزریق خطا نیز ارائه شده است. از بستر ارائه شده برای تست مدارهای محک استاندارد و طراحی های مقاوم از جمله ضرب کننده های مقابل استفاده شده است که بخشی از نتایج تست در این مقاله ارائه گردیده است.

کلیدواژه ها:

ماهواره ها ، میکروالکترونیک ، تشعشعات فضایی ، تست خطاهای نرم