مقاوم سازی ساختار سخت افزاری الگوریتم ژنتیک در برابر خطای واژگونی رخداد یکتا با استفاده از کد گذاری

سال انتشار: 1393
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 512

فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

این مقاله در بخشهای موضوعی زیر دسته بندی شده است:

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

NAEC02_014

تاریخ نمایه سازی: 15 بهمن 1393

چکیده مقاله:

شبیه سازی سخت افزاری (کد VHDL) ساختارهای دو بعدی و سه بعدی الگوریتم ژنتیک سلولی تحمل پذیر خطا در این مقاله ارائه می شود هدف این مقاله افزایش مقاومت الگوریتم ژنتیک مقابل خطای واژگونی رخداد یکتا است که باعث شده است یک یا چند بیت کروموزوم های الگوریتم ژنتیک مقدارشان واژگون شوند الگوریتم ارائه شده با استفاده از روش کد گذاری و به کارگیری روش های ابتکاری در اتصال عنصر های پردازشی توانسته مقاومت الگوریتم ژنتیک سلولی را افزایش دهد . در بخش نتایج آزمایش ها، دو معیار مقایسه و دو ساختار مختلف از الگوریتم ژنتیک سلولی تحمل پذیر خطا، برای بهینه سازی چهار تابع آزمون جهت آنالیز و مقایسه دو ساختار مذکور استفاده شده است نتایج آزمایش ها مقاومت الگوریتم پیشنهادی در برابر خطای واژگونی رخداد یکتا را اثبات می کند و نشان می دهد که الگوریتم ارائه شده با وجود داشتن خطای مذکور در ثبات کروموزوم همه عنصرهای پردازشی می تواند به جواب بهینه برسد.

کلیدواژه ها:

الگوریتم ژنتیک سلولی ، عنصر پردازشی ، تحمل پذیر خطا ، خطای واژگونی رخداد یکتا (SEU)

نویسندگان

پیمان عشوریان

دانشگاه صنعتی نوشیروانی بابل دانشکده مهندسی برق و کامپیوتر

یاسر بالغی دماوندی

دانشگاه صنعتی نوشیروانی بابل استادیار گروه مهندسی الکترونیک

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • کاهش نرخ SEU برای FPGA های مبتنی بر SRAM در ...
  • Alba, E. and B. Dorronsoro, The exp l orati on/exploitation ...
  • _ _ _ dimensional cellular genetic algorithm via a probabilistic ...
  • _ _ (AHS), 2011 NASA/ESA Conference o, 2011. IEEE. ...
  • Ortega -Sanchez, C., D. Mange, S. Smith, and A. Tyrrell, ...
  • Morales-Reyes, A., E.F. Stefatos, AT. Erdogan, and T. Arslan. Fault ...
  • Morales-Reyes, A., A.T. Erdogan, T. Arslan, and E.F. Stefatos. Towards ...
  • Morales-Reyes, A., N. Haridas, A.T. Erdogan, and T. Arslan. Fault ...
  • _ _ _ _ (CEC), 2010 IEEE Congress on. 2010. ...
  • Al-Naqi, A., A.T. Erdogan, and T. Arslan, Dynamic Fault- Tolerant ...
  • Normand, E., Single event upset at ground level. IEEE [11] ...
  • نمایش کامل مراجع