رويكردي نوين در طراحي ASIC براي جبران آثار خرابيهاي فيزيكي در فرايندهاي ساخت زير ميكرون  Fulltext 

[ علي شهابي ] - آزمايشگاه پژوهشي CAD ، دانشكدهي برق و كامپيوتر، دانشگاه تهران، تهران، ايران
[ زين العابدين نوابي ] - آزمايشگاه پژوهشي CAD ، دانشكدهي برق و كامپيوتر، دانشگاه تهران، تهران، ايران

خلاصه مقاله:

افزايش روزافزون پيچيدگي مدارهاي مجتمع از يكسو و فراگيرشدن فناوري نانو در عرصهي ساخت و توليد تراشههاي رقمي از سوي ديگر، منجر به حساسيت بيشتر اين مدارها در برابر اشكالهاي فيزيكي ( ناشي از ساخت ) و كاهش بازده محصولات شدهاست . استفادهي مجدد از اين تراشهها حتي با كارايي كمتر بسيار مناسب بهنظر ميرسد . در اين مقاله روشي براي سنتز سطح بالاي ASIC هاي تحملپذير در برابر اشكال با معرفي مفهوم انتساب منابع پويا ارائه شدهاست . در اين روش عملگرها به مؤلفههاي مجازي منتسب شده و عمليات نگاشت بين اين واحدهاي مجازي با واحدهاي فيزيكي از طريق تعدادي تسهيم - كننده و فليپ - فلاپ تعبيهشده در مسيرِدادهي مدار صورت ميپذيرد

انتساب منابع پويا، سنتز سطح بالا، قابليت كاهش كارايي، الگوي خرابي