بررسی خواص نانو ساختاری ذرات TiO2 بر روی زیر لایه های مختلف سیلیکان

سال انتشار: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,268

فایل این مقاله در 5 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

NAYRC01_092

تاریخ نمایه سازی: 17 مهر 1387

چکیده مقاله:

دراین تحقیق نانو ذرات TiO2 به روش تبخیر حرارتی بر روی زیر لایه های سیلیکان و سیلیکان متخلخل لایه نشانی شد. بعد از لایه نشانی نمونه ها بازپخت شدند که نتایج بازپخت نمونه ها بر حسب دمای بازپخت و آهنگ سرد شدن تغییرات قابل ملاحظه ای در روند رشد و ابعاد نانو ذرات از خود نشان میدهد.

کلیدواژه ها:

نانو ذرات- TiO2 - تبخیر حرارتی– سیلیکان متخلخل

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Wang, Y.; Zhang, Y.Y.; Chen, Y. N an o -Optoelectro ...
  • R. Van de krol, A. Goossens and schoonman, J _ ...
  • A. Mills, G. Hill, S. Bhopal, I.P. Parkin and S.A. ...
  • Ludmila Eckertova : " Physics of Thin Films "; 2th ...
  • نمایش کامل مراجع