بررسی اثر ضخامت در لایه های نازک IZO ساخته شده به روش سل - ژل

هدف از این پژوهش بررسی خواص الکتریکی ، اپتیکی و ساختاری لایه های نازک اکسید روی آلاییده با ناخالصی ایندیوم است. برای ساخت لایه ها، از روش سل - ژل و لایه نشانی به کمک دستگاه چرخشی استفاده شد. برای بررسی اثر ضخامت یک گروه نمونه تهیه شد. نتایج این تحقیق متوسط شفافیت برای نمون ها را بالای 90% مشخص می کند نکته قابل توجه این که در هیچ یک از نمونه ها شفافیت پایین تر از 70% مشاهده نشد. با افزایش ضخامت لایه ها، از میزان عبور نور در ناحیه مرئی کاسته شده است همچنین در ابتدا با افزایش ضخامت لایه، مقاومت الکتریکی کاهش و سپس افزایش می یابد.

کلیدواژه ها:

لایه های نازک ، IZO ، سل - ژل