مشخصه یابی اپتیکی اثر نانوتخلخل درفیلتر بازتابنده بالای فیلم نازک درناحیه مادون قرمز

سال انتشار: 1390
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 808

فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

NCNN01_131

تاریخ نمایه سازی: 17 اردیبهشت 1391

چکیده مقاله:

دراین مقاله با وارد کردن نانوتخلخل در SiO2 اثر افزایش بازتاب درفیلتر بازتابنده 9 لایه Si/(TiO2-SiO2 4Si/(TiO2-SiO2 درناحیه مادون قرمز بررسی می شود با استفاده از نظریه محیطموثر ضریب شکست موثر محاسبه می شود و نمودارهایبازتاب چگالی اپتیکی شدت میدان الکتریکی درلایه ها و ضخامت فیزیکی آن رسم و بررسی می شود میانگین بازتاب درناحیه 1000-1500 نانومتر 98.5114% بدست می آید.

نویسندگان

مریم برادران

دانشگاه گیلان دانشکده علوم

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • M. M. Braun, L. Pilon, Thin Solid Films 496, 2006, ...
  • _ _ _ _ _ _ 2010. _ _ _ ...
  • R.R. Willey, "Field Guide o Optical Thin Films", SPIE-The International ...
  • R.R. Willey, Applied Optics, 8, 2007, 1201. ...
  • W. Lu, S. Yu, W. Wen, and G. K. L. ...
  • M. M. Braun, L. Pilon, Thin Solid Films 496, 2006, ...
  • نمایش کامل مراجع