روشی نوین برای مطالعه واجذب اکسیژن در لایه نشانی لیزر پالسی اکسید تنگستن به وسیله داده برداری دامنه زمانی از افت وخیزهای مقاومت لایه در خلاء
محل انتشار: سومین کنفرانس ملی خلاء
سال انتشار: 1386
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,494
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
NCV03_003
تاریخ نمایه سازی: 1 شهریور 1387
چکیده مقاله:
لایه های اکسید تنگستن به روش لایه نشانی لیزر پالسی در محیط اکسیژن و همچنین در خلا ساخته شدند. با استفاده از XPS معلوم شد. نمونه اول حالت W+6 و با نسبت O/w=3 و دمی حالت های به صورت W+4>W+5>W+6
نویسندگان
مهدی رنجبر
دانشکده فیزیک
اعظم ایرج یزاد
دانشکده فیزیک، پژوهشکده نانو دانشگاه صنعتی شریف
سید محمد مهدوی
دانشکده فیزیک