Torsional vibration analysis of a Rectangular Atomic Force Microscope (AFM) cantilever
محل انتشار: دومین کنفرانس ملی مهندسی ساخت و تولید
سال انتشار: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 1,668
فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
NMEC02_061
تاریخ نمایه سازی: 14 آبان 1388
چکیده مقاله:
In this article, the effect of interactive lateral stiffness and damping and the length of cantilever on the torsional vibration modes of an atomic force microscope (AFM)rectangular cantilever is studied. A clossed-form expression for the sensitivity of vibration modes is derived using the relationship between the resonant frequency and contact stiffness of cantilever and sample. Each mode has a different sensitivity to variations in surface stiffness. This sensitivity directly controls the image resolution. It is obtained an AFM cantilever is more sensitive when the contact stiffness is lower and the first mode is the most sensitive mode. Also increase length of the cantilever causes torsional vibration sensitivity of the cantilever in each mode, when the contact stiffness is low.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
M Shekarzadeh
Mechanical Engineering Group, Engineering Department,Islamic Azad University, Ahwaz, Iran University Teacher
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :