بهینه تصاویر STM با تهیه نوک های تیز پلاتین - ایریدیم به روش سونش الکتروشیمیایی
محل انتشار: چهاردهمین همایش بلور شناسی و کانی شناسی ایران
سال انتشار: 1385
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 2,275
فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
SCMI14_053
تاریخ نمایه سازی: 29 تیر 1386
چکیده مقاله:
برای بررسی ساختار و ناهمواری های سطوح رسانا ها، نیمه رساناها و سطوح بلورین آنها، تا حد ابعاد نانومتری از میکروسکوپ تونلی روبشی استفاده می شود. دو جز اصلی تشکیل دهنده این میکروسکوپ الکترودهای آن، یعنی نوک دستگاه و سطح نمونه می باشند. در این مقاله با روش سونش الکتروشیمیایی ، سعی در بهینه سازی کیفیت تصاویر از طریق بهبود ساختار نوک ها نموده ایم. نوک های پلاتین ایریدیم از سیم آلیاژ پلاتین – ایریدیم (8:20) به قطر 0.25mm تهیه می شوند. برای تولید آنها از روش سونش الکتروشیمیایی استفاده کرده ایم. در این روش، محلول الکترولیت محلول خاصی از آب و اسید کلریدریک و نمک طعام است. کاتد از جنس گرافیت و ولتاژ 6 ولت متناوب به کار برده میشود. پس از سونش الکتروشیمیای، نوک ها با آب مقطر شسته میشوند. برای بررسی نتیجه آن ها را در دسنگاه میکروسکوپ تونلی روبشی easy scan شرکت nansourf قرار داده و با آن ها تصویر برداری می کنیم. تصویر برداری از سطح نمونه گرافیت با توجه به دستگاه نمایشی easy scan1 شرکت nanosurf نتیجه نسبتا خوبی را نشان می دهد.
نویسندگان
رسول اژنیان
آزمایشگاه لایه نازک - دانشکده فیزیک دانشگاه علم و صنعت ایران
سارا پیری پیشکلو
آزمایشگاه لایه نازک - دانشکده فیزیک دانشگاه علم و صنعت ایران
فاطمه سلطانی
آزمایشگاه لایه نازک - دانشکده فیزیک دانشگاه علم و صنعت ایران
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :