روش کارSvm و Thresholdدر تشخیص آفت گیاه

سال انتشار: 1393
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 567

فایل این مقاله در 8 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

SENACONF01_091

تاریخ نمایه سازی: 25 فروردین 1394

چکیده مقاله:

تشخیص و شناسایی آفات برای داشتن غذای سلم باکیفیت و اقتصادباثبات امری ضروری است مطالعه مشکلات و بیماریهای گیاهان به مطالعات الگوهای بصری قابل مشاهده یک گیاه خاص اشاره دارد امروزه محصولات کشاورزی با بیماریهای بسیاری روبرو هستند این بخش نشان دهنده روش کارThreshold و Svm برای دستیابی به تشخیص و شناخت بهترافات است که برای تشخیص افت درمحصولات کشاورزی ازجمله افت درختان میوه به کارگرفته میشوند

نویسندگان

الهام مهرآور

دانشجوی دانشگاه آزاد اسلامی واحد علوم و تحقیقات ، گروه کامپیوتر ، بوشهر ، ایران

مهدی صادق زاده

استاد و مدیر گروه دانشگاه آزاد اسلامی واحد علوم و تحقیقات ، گروه کامپیوتر ، بوشهر ، ایران

صادقی صادقی فر

دانشجوی دانشگاه آزاد اسلامی واحد علوم و تحقیقات ، گروه کامپیوتر ، بوشهر ، ایران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :