کاهش اثر خطای نرم در مدارات منطقی ترکیبی با استفاده از گیت منطقی بافر هوشمند

سال انتشار: 1393
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 969

فایل این مقاله در 9 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

TDCONF01_088

تاریخ نمایه سازی: 19 تیر 1394

چکیده مقاله:

باپیشرفت تکنولوژی گرایش به ساخت مدارات منطقی در مقیاس کوچکتر افزایش یافته است که باعث حساسیت بیشتر به اثر نویز به ویژه خطای نرم می گردد. در اینجا یک روش کاهش اثر خطای نرم در مدارات منطقی ترکیبی, بر اساس تکنولوژی ساخت 65 نانومتر ارایه داده می شود که می تواند احتمال انتشار نویز را در گیت های منطقی ترکیبی کاهش دهد. مبنای ارایه شده, مدار معیار اسکاس 85ء( ISCAS85) است. دراین مقاله با استفاده از یک الگوریتم نرم افزاری و با بکار گماردن نتایج تحلیلی بدست آمده از شبیه سازی الکتریکی گیت های منطقی ترکیبی, اثر خطای نرم در تمام مسیر های مدار معیار اسکاس 85 به صورت خودکار مورد پردازش قرار می گیرد و با تکیه بر روش اضافه کردن المان به مدار به صورت هوشمند, به مسیرهای مدار معیاری که احتمال عبور خطای نرم در آنها بیشتر وجود دارد, یک گیت منطقی بافر به انتهای آن مسیر به صورت خودکار اضافه می شود و اثر خطای نرم دوباره بررسی می گردد. گیت های منطقی بافری که منجر به حذف خطای نرم در مسیرهای مداری شده است نگاه داشته می شوند و بقیه حذف می شوند پس از اتمام عمل پردازش, مدارمعیاری جدید ارایه می شود که حاوی گیت منطقی بافر اضافه شده به خروجی مسیرهای بحرانی می باشد و قابلیت اعتماد بیشتری نسبت به مدار معیار اولیه دارد. نتایج شبیه سازی نشان می دهد که احتمال عبور خطای نرم با روش ارایه شده کاهش می یابد و به دلیل اضافه شدن گیت مفرد فقط به مسیرهایی که مشکوک به عبور خطای نرم هستند, میزان تاخیر و مصرف توان قابل قبولی انتظار می رود.

نویسندگان

علی حسینی

دانشجوی کارشناسی ارشد مهندسی برق الکترونیک، دانشگاه آزاد اسلامی واحد علوم و تحقیقات کردستان

هادی جهانی راد

دانشگاه آزاد اسلامی واحد علوم و تحقیقات کردستان

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • B. Narasimham, B. L. Bhuva, R. D. Schrimpf, L. W. ...
  • F. Moll and A. Rubio, "Spurious signals in digital CMOS ...
  • V. Zolotov, D. Blaauw, S. Sirichotiyakul, M. Becer, C. Oh, ...
  • G. I. Wirth, M. G. Vieira, and F. G. L. ...
  • J. Velamala, R. LiVolsi, M. Torres, and Y. Cao, "Design ...
  • _ P. C. Gregory, Bayesian Logical Data Analysis for the ...
  • G.Wirth, F. L. Kastensmidt, and I. Ribeiro, "Single event transients ...
  • Gili, X., Barcelo, S., Bota, S.A., and Segura, J., "Analytical ...
  • Marquard Levenberg Algorithm _ Region * Pas Region ...
  • نمایش کامل مراجع