ارائه الگوریتم بهبود یافتهXCSR با استفاده از داده های تربیتی محدود :مطالعه موردی جهت تشخیص خطا در مدارات آنالوگ
محل انتشار: همایش ملی پژوهش های کاربردی در علوم و مهندسی
سال انتشار: 1392
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 475
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
این مقاله در بخشهای موضوعی زیر دسته بندی شده است:
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
TIAU01_504
تاریخ نمایه سازی: 14 شهریور 1393
چکیده مقاله:
پیشرفت روز افزون علم الکترونیک همواره و صنعت مدارهای آنالوگ و دیجیتال باعث تولید مدراتی با وظیفه مندیهای پیچیده شده است، افزایش قابلیت اطمینان و اتکا پذیری این سیستمها ، همچنین بحث تست وتشخیص صحیح عیب و رفع عیب این گونه مدارات به موضوعی بسیار مهم وحیاتی مبدل گردیده آزمایش مرحله به مرحله مدارات در طی فرآیند ساخت و قبل از فروش آن و رسیدن به دست مصرف کننده به عنوان یکی ازتکنیک های افزایش قابلیت اطمینان مطرح می شود.بنابراین بهترین روش تولید الگویی از خطا ها می باشد و ازآنجاییکه سیستم طبقه بندیXCS که به عنوان یکی از موفق ترین عامل های یادگیرنده برای حل مسائل(Learning Agents)شناخته شده است،در این مقاله با استفاده از سیستم طبقه بندیXCSو سایر الگوریتم های یادگیری مبتنی بر نمونه به تشخیص خطا در مدارات آنالوگ و به عنوان نمونه یک مبدل آنالوگ به دیجیتالADC می پردازیم. کارایی روش های مزبور نیز از طریق مقایسه نتایج (در مورد مسئله معیار) موردارزیابی قرار می گیرد
کلیدواژه ها:
نویسندگان
ن مشتاقی یزدانی
دانشجوی کارشناسی ارشد مکاترونیک، دانشگاه تهران
م شریعت پناهی
دانشیار دانشکده مهندسی مکانیک، دانشگاه تهران.
آ یزدانی سقرلو
دانشجوی کارشناسی ارشد مهندسی کامپیوتر – نرم افزار، دانشگاه تهران