علی محمدی قیداری - پژوهشکده نیمه هادیها، پژوهشگاه مواد و انرژی، مشکین دشت،کرج، آزما یش
بهمن بهدین - آزما یشگاه لایه های نازک، دانشکده برق و کامپیوتر دانشگاه تهران، تهرا
ابراهیم اصل سلیمانی - پژوهشکده نیمه هادیها، پژوهشگاه مواد و انرژی، مشکین دشت،کرج
مسعود الله کرمی - آزما یشگاه لایه های نازک، دانشکده برق و کامپیوتر دانشگاه تهران

خواص الکترواپتیکی و ساختاری لایه های ITO بر حسب تابعی از دمای گرمادهی نهایی مورد بررسی قرار گرفت و دیده شد که در دمای 400 درجه مقاومت سطحی لایه ها به کمترین مقدار خود رسیده و در این دما لایه ها در جهت (222) کریستال شده اند . تاثیر خواص کریستالی لایه ها روی خواص الکترواپتیکی آنها نیز مورد بررسی قرار گرفته است