اين كار، خواص مغناطيسي لايه هاي آلياژي Ni100-xCux تهيه شده به روش الكتروانباشت روي زيرلايه سيليكون نوع n مورد مطالعه قرار گرفته است . سطح نمونه ها توسط ميكروسكوپ الكتروني روبشي (SEM) آناليز شده، نسبت هاي واقعي نيكل و مس در تركيب بوسيله آناليز پرتوهاي ايكس اين دستگاه (EDS) بدست آمده، با نسبت هاي اسمي مقايسه گرديده است . منحني هاي پسماند مغناطيسي نمونه ها بوسيله مغناطوسنج نيروي گراديان متناوب (AGFM) رسم گرديده، تغيير خواص مغناطيسي با تغيير مقدار x مورد بررسي قرار گرفته است

كلمات كليدي: