CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

بررسی و محاسبه ثابتهای نوری لایه های نانو بلوری اکسید روی با استفاده از منحنی عبور نوری

عنوان مقاله: بررسی و محاسبه ثابتهای نوری لایه های نانو بلوری اکسید روی با استفاده از منحنی عبور نوری
شناسه ملی مقاله: IPC86_217
منتشر شده در کنفرانس فیزیک ایران 1386 در سال 1386
مشخصات نویسندگان مقاله:

محمد بیک احمدی - آزمایشگاه تحقیقاتی لایه های نازک، دانشکده مهندسی برق وکامپیوتر، دا
بهزاد اسفندیار پور - آزمایشگاه تحقیقاتی لایه های نازک، دانشکده مهندسی برق وکامپیوتر، دا
شایان بهرامی نژاد - آزمایشگاه تحقیقاتی لایه های نازک، دانشکده مهندسی برق وکامپیوتر، دا
فاطمه دهقان نیری - آزمایشگاه تحقیقاتی لایه های نازک، دانشکده مهندسی برق وکامپیوتر، دا

خلاصه مقاله:
لایه های نانو بلوری اکسید روی با استفاده از سیستم کندوپاش RF بر روی زیر لایه شیشه و بدون گرمادهی زیر لایه در محیط گاز آرگون لایه نشانی شده اند . با استفاده از آنالیز پراش اشعه (XRD) X و آنالیز میکروسکوپ الکترونی (SEM) ساختار بلوری و ساختار سطحی لایههای نانو بلوری اکسید روی بررسی گردیده است . لایه های اکسید روی در محیط گاز آرگون و اکسیژن گرمادهی شده و طیف عبور نوری آنها به کمک آنالیز FTIR بدست آمده است . آنالیز XRD افزایش اندازه دانه های اکسید روی و جهت گیری غالب (002) را پس از گرمادهی در دمای 400 °C نشان می دهد . با استفاده از روش Swanepoel ثابت های نوری لایه های نانو بلوری اکسید روی از قبیل اندیس انکساری و ضریب جذب محاسبه شده و تاثیر فرایند گرمادهی بر روی ضرایب مذکور بررسی گشته است

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/22526/