كنفرانس فيزيك ايران 1386 (1386)

 

XPSساخت و بررسي خواص نانواكسيد سيليكون توسط

نويسنده‌گان:
فرشيد مفيدنخعي - دانشگاه ازاد اسلامي واحد ساري
ماندانا رودباري - دانشگاه ازاد اسلامي واحد ساري
علي پهلوان - دانشگاه ازاد اسلامي واحد ساري
علي بهاري - گروه فيزيك دانشگاه مازندران، بابلسر

خلاصه مقاله:

ضخامت اكسيد سيليكون در ترانزيستورهاي CMOS فعلي حدود 1 /2 نانومتر است و عواملي باعث محدود شدن كارايي اكسيد فوق نازك سيليكون در توليدات آتي CMOS مي شود . اما تاكنون هيچ عايق دي الكتريك ديگري نتوانست در عمل جايگزين خوبي براي اكسيد سيليكون باشد . بنابراين همچنان نياز به رشد اكسيد سيليكون فوق نازك حدود 1 nm و نازكتر مي باشد . لذا در اينجا به رشد اكسيد سيليكون درشرايط فوق خلاء پرداختيم وتوانستيم اكسيد سيليكون فوق نازكي بر زير لايه ي سيليكون رشد دهيم كه يك رشد خود - محدودكننده اي را نشان داده است

 

كلمات كليدي:


دریافت اصل مقاله: http://www.civilica.com/Paper-IPC86-IPC86_258.html