فاطمه اکبربیگلو - دانشگاه آزاد اسلامی واحد ارومیه
هاله کنگرلو - دانشگاه آزاد اسلامی واحد ارومیه

لایه های نازک سولفید سربPbS) بر روی زیرلایه شیشه ای در دمای انباشت یکسان55 oC,زمان های متفاوت 22 و 02 دقیقه با استفاده از روش حمام شیمیایی انباشت می شوند. نانوساختار و مورفولوژی سطح لایه ها به ترتیب با استفاده از پراش اشعه ایکس XRD),میکروسکوپ نیروی اتمیAFM) مورد مطالعه قرار می گیرند و برای بررسی خصوصیات اپتیکی لایه های بدست آمده از طیف سنج نوریSpectrophotometer) در محدوده طول موج نور مرئی استفاده می شود

پراش اشعه ایکس، حمام شیمیایی، خصوصیات اپتیکی، سولفید سرب، میکروسکوپ نیروی