امین مرادی - دانشکده فیزیک، دانشگاه تحصیلات تکمیلی علوم پایه زنجان، زنجان
احسان احدی اخلاقی - دانشکده فیزیک، دانشگاه تحصیلات تکمیلی علوم پایه زنجان، زنجان
احمد درودی - گروه فیزیک، دانشکده علوم، دانشگاه زنجان، زنجان

میکروسکوپ چینشی وسیله ای قدرتمند برای تصویر برداری از اجسام فازی میکرونی است. اساس کار این نوعمیکروسکوپ تقسیم نور به دو باریکه و بازترکیب آن ها به منظور ایجاد طرح تداخلی است. به فاصله جدایی این دوباریکه مقدار چینش گفته می شود. مشخص بودن مقدار چینش، برای بسیاری از کاربردهای این نوع میکروسکوپی ماننداندازه گیری پارامترهای هندسی یا نمایه ضریب شکست اجسام فازی ضروری است. در این مقاله روشی آسان براساستحلیل طرح تداخلی ناشی از یک میکروکره برای اندازه گیری مقدار چینش این نوع میکروسکوپ ها ارائه شده است. با استفاده از این روش مقدار چینش برای بزرگ نمایی های مختلف میکروسکوپ الیمپوس مدل IX-71 اندازه گیری شده است.

میکروسکوپ،مقدار چینش،اندازه گیری مقدار چینش