فاطمه دباغ کاشانی - دانشگاه علم و صنعت ایران،دانشکده فیزیک
شهریار برادران شکوهی - دانشگاه علم و صنعت ایران، دانشکده برق
بیژن غفاری - دانشگاه علم و صنعت ایران، دانشکده فیزیک

امروزه آزمایش قطعات اپتیکی و اندازهگیری درجه شایستگی آنها از دغدغه های کاربران قطعات اپتیکی است. بدین منظور آزمونهای اپتیکی متفاوتی شکل گرفتهاست که .[ اغلب بر پایه بررسی واندازهگیری جبههموج میباشد[ 1,2 از آنجاییکه اندازهگیری فاز به صورت مستقیم امکانپذیر نیست، در آزمونهای گوناگون اندازهگیری جبههموج، الگوی شدت به مشتق مرتبه اول و یا دوم فاز مرتبط میشود. به منظور اندازهگیری الگوی شدت ثبت شده و حذف اختلالات محیطی، پردازش تصویرمورد استفاده قرار میگیرد. در این مقاله از روشShack-Hartmann برای اندازهگیری جبههموج استفاده شده است، با الهام از روشهای قدیمی موقعیت یابی مجموع و بیشینهیابی [ 2] روش ترکیبی جدیدی پیشنهاد شدهاست که نتایج مناسبی در حذف اختلال و مرکز یابی بدست میدهد.

جبهه موج ، میکروعدسی،،CCD پردازش تصویر