شیدا باقر زاده - آزمایشگاه تحقیقاتی لایه های نازک ، گروه مهندسی برق و کامپیوتر ، دانشک
نگین معنوی زاده - آزمایشگاه تحقیقاتی لایه های نازک ، گروه مهندسی برق و کامپیوتر ، دانشک
ابراهیم اصل سلیمانی - آزمایشگاه تحقیقاتی لایه های نازک ، گروه مهندسی برق و کامپیوتر ، دانشک
محمد هادی ملکی - پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای ، پژوهشکده لیزر و اپتیک

هدف از این پژوهش بررسی ویژگی های فیزیکی و ساختاری لایه های نازک ZnO بر روی زیر لایه های مختلف می باشد به این منظور لایه های اکسید روی در شرایط مشابه بر روی زیر لایه های شیشه . منوکریستال سیلیکون (100) نوع O مولتی کریستال سیلیکون لایه نشانی و سپس در دمای C 400 در کوره خلاء تحت عملیات گرمادهی قرار گرفته اند ویژگی های اپتیکی . ساختار بلوری و ساختار سطحی این لایه ها با کمک آنالیز های طیف UV/VIS/IR و XRD و SEM مورد بررسی قرار گرفته است

اکسید روی ( ZnO ) ، منو و بلور سیلیکون ، مولتی بلور سیلیکون ، ویژگی های بلوری و سطحی ،