CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

اندازه گیری HVL فیلتر Ni و مطالعه تأثیر آن بر سختی اشعه X

عنوان مقاله: اندازه گیری HVL فیلتر Ni و مطالعه تأثیر آن بر سختی اشعه X
شناسه ملی مقاله: IPC87_106
منتشر شده در کنفرانس فیزیک ایران 1387 در سال 1387
مشخصات نویسندگان مقاله:

حسین ترکاشوند - گروه فیزیک دانشگاه اراک

خلاصه مقاله:
فیلترهای اشعه X برای حذف طیف نرم و اشعه X اختصاصی عنصر هدف در دستگاههای اشعهX به کار می روند که باعث سخت شدن طیف اشعه X حاصل می شود . در این کار فیلم هایی از نیکل به عنوان فیلتر به ضخامت اسمی 250-10 میکرون به روش الکتروانباشت تهیه شد. HVL فیلتر نیکل را با قرار دادن ضخامتهای مختلف فیلتر مقابل اشعه اندازه گرفتیم.برای بررسی تأثیر فیلتر روی سختی اشعه ورقه ای از آلومینیوم یکبار در غیاب فیلتر نیکل و بار دیگر در حضور آن اندازه گیری شد. با سخت شدن اشعه در حضور فیلتر HVL ، Ni آلومینیوم افزایش نشان میدهد.

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/83744/