عیب یابی توسط روش تصویر نگاری جریان گردابی مگنتو اپتیک و کاربردهای آن در صنایع هواپیما سازی
سال انتشار: 1387
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 2,158
فایل این مقاله در 12 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
این مقاله در بخشهای موضوعی زیر دسته بندی شده است:
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICTINDT02_025
تاریخ نمایه سازی: 3 شهریور 1387
چکیده مقاله:
هدف از این مقاله آشنایی با روش جدید در حوزه آزمایش جریانهای گردابی (Eddy Current ) می باشد که به Magnetic optical Imaging یا MOI معروف می باشد ، MOI در واقع یک نوع تصویر برداری مگنتو اپتیکی از جریان های گردابی می باشد .توسط این روش می توان تصاویر واقعی و Real Time از آزمایش جریان های گردابی به دست آورد . با این روش می توان ترکهای خستگی (Fatigue Crack ) سطحی و زیر سطحی و خوردگی های (Corrosions) پنهان را در زیر لایه ها آشکار کرد . کاربرد عمده این روش در صنعت هواپیمایی در بازرسی عیوب زیر و پنهان را در زیر لایه ها آشکار کرد . کاربرد عمده این روش در صنعت هواپیمایی در بازرسی عیوب زیر و (Rives) و در ساختارهای fuselage و wing می باشد . با بهره گیری از این روش زمان بازرسی به یک دهم نسبت به روش ET کاهش می یابد . این روش به این گونه است که حضور عیب در منطقه ی تست باعث می شود که جریان های لایه ای صفحه ای از یکنواختی خارج گردند و باعث ایجاد مولفه میدان مغناطیسی عمود برسطح قطعه گردند. این مولفه عمودی میدان مغناطیسی با استفاده از اثر فارادی و با استفاده از سنسور مگنتو اپتیک قابل مشاهده می باشد .
کلیدواژه ها:
بازررسی پرچ – تصویر برداری مگنتو اپتیکی
نویسندگان
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :