ورود
مقالات فارسیISIکنفرانسهاژورنالها

انتخاب بهترین مجموعه آزمون سیستم بر تراشه با روش جدید غیرفعال سازی انتقال

محل انتشار: دهمین کنفرانس سالانه انجمن کامپیوتر ایران
سال انتشار: 1383
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,167

فایل این مقاله در 9 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:
https://civilica.com/doc/128493

شناسه ملی سند علمی:

ACCSI10_050

تاریخ نمایه سازی: 25 آذر 1390

چکیده مقاله:

انتخاب بهترین مجموعه آزمون از بین مجموعه آزمونهای مختلف تاثیر زیادی روی کاهش توان و زمان بکارگیری آزمون دارد روشهای پیشین انتخابمجموعه آزمون به دو معیار کاهش توان و کاهش زمان بکارگیری آزمون بصورت جداگانه پرداخته اند دراین مقاله دومعیار کاهش توان و کاهش زمان آزمون بصورت همزماندرنظر گرفته شده و روش جدیدی ارائه شده است نتایج شبیه سازی روی محکهای ISCAS85 بهبود مصرف توان و زمان بکارگیری ازمون را نشان میدهد.

کلیدواژه ها:

مجموعه آزمون ، آزمون سیستم بر تراشه ، توان و زمان آزمون

نویسندگان

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Vol. E81 -A. .د2640-264 Fundamentals, _ No, 12. December 1998. ...
  • Makoto Sugihara. Hirosshi Date and Hiroto Y asuura, A Test ...
  • A. IHertwig and H-J Wunderlich. Low ...
  • Power Seral Built-In SelIf-Test, Compendium of Papers، f opean Tst ...
  • Principles of CM()S _ Design: A systerms Perspective By Kamran ...
  • Sympisum on _ and Systems. _ 296-299. 7. _ Austin, ...
  • - _ Whetse1. .Adapting scan architectures for _ power operation. ...
  • C. A. Chen and S. K. Gupta. Efficient BIST TPG ...
  • Trans _ Computer-! _ Design. 17(8):692 -70. Aug. 1998. ...
  • IEEE Trans Comput. vol. C-33. p. _ 5 46. June ...
  • K. J _ _ _ Chen. aud (C. H Huang ...
    • نمایش کامل مراجع