مشخصه یابی پراش اشعه ایکس و طیف سنجی رامان بر روی درجه ی خلوص و همراستایی نانولوله های کربنی
محل انتشار: اولین همایش ملی علوم و فناوری نانو
سال انتشار: 1391
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,675
فایل این مقاله در 5 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
AHVAZNANO01_013
تاریخ نمایه سازی: 19 اسفند 1391
چکیده مقاله:
این مقاله آرایه منظم نانولوله های کربنی را بوسیلهی الگوی پراش اشعه ایکس و طیف سنجی رامان مطالعه میکند. مساحت الگوهای پراش عموما خلوص و مقدارکربن آمورف در نانولولههای کربنی را ارائه میدهد و شدت قلههای مربوط به صفحات( 002 ) همراستایی و نظم موجود در نانولولههای کربنی را تعیین میکند. مد شعاع تنفسینانولوله کربنی علاوه بر تعیین کردن محدودهی پیوستگی در قطر نانولولههای کربنی، مقدار نانولوله را ارائه میدهد. با توجه به محدوده فرکانسی بالاتر شدت باندهای گرافیتی و نقص در این طیف سنجی معرف خلوص و بلورینگی نانولولهها خواهد بود. این شیوهها روش ساده ای را در تعیین میزان خلوص، یکراستایی و بازهی قطر نانولولههای کربنی ایجاد کرده است
کلیدواژه ها:
نویسندگان
امیرحسن مهدی زاده مقدم
پژوهشکده فناوری نانو ، دانشگاهسیستان و بلوچستان ، زاهدان ، ایران
مرتضی ایرانی
پژوهشکده فناوری نانو ، دانشگاهسیستان و بلوچستان ، زاهدان ، ایران
عماد خاکسار
دانشگاهسیستان و بلوچستان